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被測(cè)參數(shù)
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|Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
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測(cè)量電路模式
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串聯(lián)和并聯(lián)
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量程轉(zhuǎn)換
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自動(dòng)和手動(dòng)
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觸發(fā)
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內(nèi)部、外部和總線（HP-IB）
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延遲時(shí)間
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0-60.00s以1ms步進(jìn)
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測(cè)量終端
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四端對(duì)
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測(cè)試電纜長(zhǎng)度
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標(biāo)準(zhǔn)：0和1m；帶選件006時(shí)：0、1、2和4m
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積分時(shí)間：
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短、中等和長(zhǎng)
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取平均：
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1-256可程控
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測(cè)試信號(hào)：
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20Hz-1MHz±0.01%8610個(gè)可選擇頻率
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測(cè)試信號(hào)方式：
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標(biāo)準(zhǔn)：
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分別在開(kāi)路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程
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恒定：
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維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān)
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測(cè)試信號(hào)：
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電平
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標(biāo)準(zhǔn)
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恒定
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4284A
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5mV~2V,50μA-20mA
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10mV-1V,100μA-10mA
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選件001
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5mV~2V,50μA-200mA
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10mV-10V,100μA-100mA
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直流偏置：
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標(biāo)準(zhǔn)：0V，1.5V和2V 選件：0V-±40V
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測(cè)量顯示范圍
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參數(shù)
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范圍
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|Z|,R,X
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0.01mΩ-99.9999MΩ
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|Y|,G,B
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0.01nS-99.9999S
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C
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HP 4284A:0.01fF-9.9999F
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L
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HP 4284A:0.01nH-99.9999kH
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D
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0.000001-9.99999
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Q
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0.01-99999.9
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θ
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-180.000°~180.000°
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Δ%
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-999.999%~999.999%
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基本測(cè)量精度
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補(bǔ)充特性：
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測(cè)量時(shí)間：
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從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間
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短
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40ms
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中等
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190ms
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長(zhǎng)
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830ms
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選件001直流偏流輸出
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100mA max
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顯示器：
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LCD點(diǎn)陣顯示：
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顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示
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修正功能
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開(kāi)路/短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差
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接負(fù)載：
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利用已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量精度
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列表掃描功能
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*多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程。可進(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試，當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試
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比較器
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10倉(cāng)室（ten-bin)分類(lèi)用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測(cè)量參數(shù)
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倉(cāng)室計(jì)數(shù)：
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0-999999
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列表掃描比較器：
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高/符合/低判定輸出用于列表掃描表中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)
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其它功能：
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存儲(chǔ)/加載：
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10個(gè)儀器設(shè)置可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)儲(chǔ)存卡存儲(chǔ)/加載
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HP-IB
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所有儀器控制設(shè)置，被測(cè)值，比較極限，列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果
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存儲(chǔ)器：
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存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)*多128個(gè)測(cè)量結(jié)果，并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)，ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式
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