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產(chǎn)品名稱(chēng)：XRF-2000L測(cè)厚儀韓國(guó)Micropioneer
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品報(bào)價(jià)：
產(chǎn)品特點(diǎn)：MicroP XRF-2020鍍層測(cè)厚儀通過(guò)CCD鏡頭觀察樣品倉(cāng)快速無(wú)損測(cè)試鍍層膜厚測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍鉻,鍍銅,鍍鋅鎳合金等！可測(cè)量單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層。XRF-2000L測(cè)厚儀韓國(guó)Micropioneer
XRF-2000L測(cè)厚儀韓國(guó)Micropioneer的詳細(xì)資料：
MicroP XRF-2020鍍層測(cè)厚儀
通過(guò)CCD鏡頭觀察樣品倉(cāng)
快速無(wú)損測(cè)試鍍層膜厚
測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍鉻,鍍銅,鍍鋅鎳合金等！
可測(cè)量單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層。
XRF-2000L測(cè)厚儀韓國(guó)Micropioneer
XRF-2000系列均已升級(jí)及更新為XRF-2020系列
XRF電鍍層測(cè)厚儀:
是一種基于X射線(xiàn)熒光原理的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備?
通過(guò)激發(fā)鍍層元素產(chǎn)生特征射線(xiàn)并分析其強(qiáng)度來(lái)測(cè)量金屬表面鍍層厚度
適用于電鍍,電子制造,半導(dǎo)體等行業(yè)的質(zhì)量控制。
技術(shù)參數(shù)與工作原理
XRF-2020系列鍍層測(cè)厚儀
核心技術(shù)是?X射線(xiàn)熒光光譜分析?：
高能X射線(xiàn)照射樣品時(shí)，鍍層元素被激發(fā)釋放特征熒光
探測(cè)器捕獲信號(hào)后通過(guò)算法計(jì)算鍍層厚度。
具體參數(shù)包括：??
?
精準(zhǔn)度?：
單層鍍層測(cè)量誤差≤±5%以?xún)?nèi)，
多層鍍層誤差隨層數(shù)增加略升:
表層正負(fù)5%，第二層正負(fù)10%,第三層15%。??
?測(cè)量范圍?：0.02-30um
可檢測(cè)金、鎳、銅，錫，銀等12種元素，
檢測(cè)時(shí)間?：?jiǎn)未螜z測(cè)僅需10–30秒
XRF-2020系列均配備自動(dòng)對(duì)焦
應(yīng)用領(lǐng)域與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
該設(shè)備滿(mǎn)足高精度工業(yè)檢測(cè)需求，主要場(chǎng)景包括：
?電子與半導(dǎo)體?：五子端子連接器等，芯片引腳等。??
?汽車(chē)與航空航天?：檢測(cè)發(fā)動(dòng)機(jī)部件鎳鉻鍍層
?電鍍與五金?：測(cè)量鋅鎳合金鍍層及鋅鎳含量檢測(cè)
MicroP XRF-2020電鍍層測(cè)厚儀
測(cè)量
電子電鍍五金端子連接器半導(dǎo)體等生產(chǎn)企業(yè)或來(lái)料檢測(cè)
通過(guò)CCD鏡頭觀察樣品倉(cāng)
快速無(wú)損測(cè)試鍍層膜厚
XRF-2000L測(cè)厚儀韓國(guó)Micropioneer
測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍鉻,鍍銅,鍍鋅鎳合金等！
可測(cè)量單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層。
單層：如Ag/Cu,Sn/Cu,Ni/Cu,Ni/Fe,Ni/SS等
最多分析5層復(fù)合鍍層
(如Ag/Ni/Cu或Sn/Ni/Cu，Ag/Ni/Cu ，Sn/Ni/Al，Cr/Ni/Cu/Fe等）
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XRF-2000系列均已升級(jí)及更新為XRF-2020系列
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