設為首頁
加入收藏
聯(lián)系我們
產(chǎn)品名稱：鍍錫膜厚測試儀X-RAY鍍層測厚儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：鍍錫膜厚測試儀X-RAY鍍層測厚儀鍍錫測量范圍：0.3-60um韓國先鋒XRF-2020檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...可測單層,雙層,多層,合金鍍層XRF-2020金屬電鍍層測厚儀
鍍錫膜厚測試儀X-RAY鍍層測厚儀的詳細資料：
鍍錫膜厚測試儀X-RAY鍍層測厚儀
鍍錫測量范圍：0.3-60um
韓國先鋒XRF-2020系列
微先鋒Micro Pioneer
產(chǎn)地：韓國
型號：XRF-2020
功能及應用：
檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度
可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等
雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金,鋁上鍍鎳鍍銅鍍銀等。
合金鍍層：鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等
韓國MicroPioneer
XRF-2020測試范圍
鍍金：0.03-6um
鍍鈀：0.03-6um
鍍鎳：0.5-30um
鍍錫：0.3-50um
鍍銀：0.1-50um
鍍鉻：0.5-30um
鍍鋅：0.5-30um
鍍鋅鎳合金：0.5-30um
儀器測試精度
表層：±5%以內(nèi)
第二層：±10%以內(nèi)
第三層：±15%以內(nèi)
型號及規(guī)格
H型測量樣品高12CM,長寬55cm
L型測量樣品高3CM,長寬55cm
檢測鍍層厚度0.03-35um
鍍錫膜厚測試儀X-RAY鍍層測厚儀
測量范圍：0.3-60um
規(guī)格如下圖
韓國Micro Pioneer XRF-2020鍍層測厚儀
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等，不限底材。
如單鍍層銅上鍍銀，銅上鍍鎳，銅上鍍鋅，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等
雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳，銅上鍍鎳鍍銀等，不限底材
多鍍層如：ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻，鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等，不限底材
合金鍍層如：鐵上鍍鋅鎳等。不限底材
X射線金屬鍍層測厚儀XRF-200
標牌：Micro Pioneer 微先鋒
貨號：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-PCB三款
L型：測量樣品長寬55cm,高3cm
H型：測量樣品長寬55cm,高12cm
三款機型均為全自動臺面，自動雷射對焦。
| 如果你對鍍錫膜厚測試儀X-RAY鍍層測厚儀感興趣，想了解更詳細的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
