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產(chǎn)品名稱：X射線金屬鍍層測厚儀韓國先鋒2000膜厚儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點(diǎn)：韓國MicropioneerXRF-2000X射線測厚儀X射線金屬鍍層測厚儀韓國先鋒2000膜厚儀通過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...可測單層,雙層,多層,合金鍍層
X射線金屬鍍層測厚儀韓國先鋒2000膜厚儀的詳細(xì)資料：
X射線金屬鍍層測厚儀韓國先鋒2000膜厚儀
XRF-2020系列韓國Micropioneer
檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器等產(chǎn)品電鍍層厚度
可測量鍍金,鍍銀.鍍鋅.鍍鎳,鍍錫.鍍鉻,鍍鋅鎳等
可廣泛使用于電鍍生產(chǎn)企業(yè)及成品來料檢測,方便更有效控制產(chǎn)品電鍍層厚度及品質(zhì)。
可用于測量工件、PCB及五金、連接器、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結(jié)果, 小測量面積為直徑為0.2mm的圓面積; 測量范圍：0-35um;
可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量
測量原理：
物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。
特征：
可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。
XRF-2000系列型號均已升級為XRF-2020系列
XRF-2020測厚儀
韓國Micropioneer
標(biāo)牌：Micro Pioneer
貨號：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-PCB三款
XRF-2020測厚儀H型:測量樣品高度不超過12cm
XRF-2020測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
XRF-2020測厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm
X射線鍍層測厚儀XRF-2020鍍層測厚儀
三款機(jī)型均為全自動臺面，自動雷射對焦。
X射線金屬鍍層測厚儀韓國先鋒2000膜厚儀
通過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層
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