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X光鍍層測厚儀
- X熒光鍍層測厚儀

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產(chǎn)品名稱：X-RAY膜厚儀測試范圍

產(chǎn)品型號：

產(chǎn)品報(bào)價：

產(chǎn)品特點(diǎn)：X-RAY膜厚儀測試范圍：0.03-35um
測量電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層

X-RAY膜厚儀測試范圍的詳細(xì)資料：

X-RAY膜厚儀測試范圍：0.03-35um

X-RAY膜厚儀測試范圍：韓國XRF-2020測厚儀系列

Au 0.03-4um

Ag 0.03-25um

Ni 0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Cr 0.05-20um

Zn 0.05-20um

ZnNi:0.05-20um

SnCu:0.05-20um

韓國Micro Pioneer XRF-2020測厚儀

測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

韓國Micro PioneerXRF-2020測厚儀?精度

*層：±5%以內(nèi)

第二層：±8%以內(nèi)

第三層：±15%以內(nèi)

X-RAY膜厚儀：韓國Micro Pioneer XRF-2020測厚儀配置

全自動臺面

自動雷射對焦

多點(diǎn)自動測量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測樣品）

測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 四種規(guī)格可選

測量樣品長寬均為55cm

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

每層鍍層分開顯示各自厚度.

測量時間：10－30秒

韓國Micro Pioneer XRF-2000測厚儀

測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等。

X-RAY膜厚儀

品牌：Micro Pioneer

原產(chǎn)地：韓國

型號XRF-2020

功能及應(yīng)用：測量鍍：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層，不限底材。

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