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聯(lián)系我們產(chǎn)品展示
產(chǎn)品名稱：韓國先鋒X光測厚儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：韓國先鋒X光測厚儀韓國XRF-2000測厚儀測量電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...可測單層,雙層,多層,合金鍍層
韓國先鋒X光測厚儀的詳細資料：
韓國先鋒X光測厚儀
韓國Micropioneer XRF-2000測厚儀
1、測量電鍍層厚度范圍為0.03微米～35微米。
2、可測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳及鋅鎳合金等。
3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量，不限底村。
韓國Micro Pioneer XRF2020鍍層測厚儀測試范圍
鍍金：0.03-6um
鍍鈀：0.03-6um
鍍鎳：0.5-30um
鍍錫：0.3-50um
鍍銀：0.1-50um
鍍鉻：0.5-30um
鍍鋅：0.5-30um
鍍鋅鎳合金：0.5-30um
韓國先鋒X光測厚儀應(yīng)用：
檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度
可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
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