設為首頁
加入收藏
聯(lián)系我們
產(chǎn)品名稱：X射線電鍍層測厚儀,韓國先鋒鍍層測厚儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...韓國先鋒X-RAY膜厚儀可測單層,雙層,多層,合金鍍層,韓國微先鋒X射線測厚儀
X射線電鍍層測厚儀,韓國先鋒鍍層測厚儀的詳細資料：
韓國微先鋒X射線測厚儀
應用 :
檢測電子電鍍,PCB板,五金電鍍層厚度
測量范圍根據(jù)不同鍍層0.04-35um
精度控制：
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)
測量鍍金、鍍銀,鍍銅,鍍鎳,鍍鉻,鍍鋅,鍍錫,鍍鈀等,其可偵測元素的范圍： Ti(22)~U(92 )。
特色 :
非破壞，非接觸式檢測分析，快速精確。
可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 底材 ) 并可同時分析多種元素。
相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告 。
全系列*設計樣品與光徑自動對焦系統(tǒng)。
標準配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。
準直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準值器的口徑。
移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差 。
*2D與3D或任意位置表面量測分析。
雷射對焦，配合CCD攝取影像使用point and shot功能。
標準ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計等作成完整報告 。
光學20倍影像放大功能，更能精確對位。
單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。
優(yōu)于美制儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的優(yōu)勢。
韓國微先鋒X射線測厚儀還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能，
其物點為：高分辨率，固態(tài)探測器;可分析超薄樣品
分析有害物質(zhì)，元素分析分之ppm - 100％,符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優(yōu)化的應用;
可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；
電鍍?nèi)芤悍治觯?/span>
定性分析超過30種元素,能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規(guī)則形狀；
貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；
自動過濾器，多準直儀(五個準直器，從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺；
性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm,重量：75Kg (net)
可測量樣器大?。?/span>W550mm D550mm H30mm
韓國微先鋒X射線測厚儀
電鍍膜厚儀
X射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分及電鍍層膜厚
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層
韓國Micro Pioneer XRF-2000X射線鍍層測厚儀
1. H型: 密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。
2. L型: 密閉式樣品室，方便測量 樣品較小，高度約30mm以下。
3. PCB型: 開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下
| 如果你對X射線電鍍層測厚儀,韓國先鋒鍍層測厚儀感興趣，想了解更詳細的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
