X熒光鍍層測厚儀的詳細資料：

XRF2000鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.03-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度
全自動臺面,操作非常方便簡單

XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量

同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。

只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果

甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。

全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整。超大/開放式的樣品臺

可測量較大的產(chǎn)品，可測量各類金屬層、合金層厚度等。

可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）原子序 22 – 92
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計功能

韓國XRF-2000電鍍測厚儀

檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀

X熒光鍍層測厚儀

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