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聯(lián)系我們X射線鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用及物理意義
點(diǎn)擊次數(shù)：1355 更新時(shí)間：2017-04-24
X射線鍍層測(cè)厚儀有著快速，準(zhǔn)確，非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
X射線鍍層測(cè)厚儀X射線熒光的物理意義：
X射線是電磁波譜中的某特定波長(zhǎng)范圍內(nèi)的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長(zhǎng)（單位：鈉米，nm）描述。X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運(yùn)轉(zhuǎn)，它們按不同的能量分布在不同的電子殼層：分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
當(dāng)具有高能量的入射（一次）X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí)，會(huì)打破原子結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性。處于低能量電子殼層（如：K層）的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來(lái)，電子的逐放會(huì)導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會(huì)躍遷到該低能量電子殼層來(lái)補(bǔ)充相應(yīng)的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來(lái)，不同的元素所釋放出來(lái)的二次X射線具有特定的能量特性。儀器通過探測(cè)不同的元素所釋放出來(lái)的二次X射線具有特定的能量特性，進(jìn)行分析計(jì)算得到各鍍層厚度，這一個(gè)過程就是我們所說(shuō)的X射線鍍層測(cè)厚儀。
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